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J-GLOBAL ID：201306051210406185

テストパターン生成

電子計算機
同義語 (1件)：

試験パターン生成 (test pattern generation)
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関連語 (3件)：

ソフトウェア開発 (software development)
ソフトウェア開発について
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テストパターン (test pattern)
テストパターンについて
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プログラム検証 (program verification)
プログラム検証について
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上位語 (2件)：

製造 (manufacturing)
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発生 (generation)
発生について
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