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J-GLOBAL ID:201309026955100564   JST資料番号 (フル):B0007CBZ   JST資料番号:B0007C

IEEE Design & Test

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B0007C
ISSN (1件): 2168-2356
資料内容種別:一般記事, メタデータのみ, 隔月(年6回)
刊行頻度: 隔月(年6回)
発行国:アメリカ合衆国(USA)
本文使用言語 (1件): 英語(EN)
JST資料分類 (3件): 計算機方式・ハードウェア (JC) ,  計算機ソフトウェア (JD) ,  計算機利用技術 (JE)
出版団体名: Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  Institute of Electrical and Electronics Engineers. Council on Electronic Design Automation ,  Institute of Electrical and Electronics Engineers. Circuits and Systems Society ,  Institute of Electrical and Electronics Engineers. Solid-State Circuits Society ,  Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Council
出版地:New York
前資料名 (1件):
  • IEEE Design & Test of Computers
JST所蔵 (0件)

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