研究者
J-GLOBAL ID:201401023989700330   更新日: 2024年02月14日

江利口 浩二

エリグチ コウジ | Eriguchi Koji
所属機関・部署:
職名: 教授
ホームページURL (1件): http://www.propulsion.kuaero.kyoto-u.ac.jp/
研究分野 (5件): ナノ材料科学 ,  電子デバイス、電子機器 ,  材料加工、組織制御 ,  複合材料、界面 ,  プラズマ科学
研究キーワード (30件): プラズマプロセス ,  誘電率 ,  欠陥層 ,  電気容量 ,  分子動力学 ,  プラズマ ,  欠陥 ,  表面・界面 ,  ナノ材料 ,  レーザー ,  変調反射率分光 ,  誘電関数 ,  トランジスタ ,  極低消費電力 ,  界面層 ,  電子 ,  表面界面改質 ,  シリコン ,  プラズマ化学 ,  プラズマ加工 ,  表面・界面物性 ,  超微細加工形状 ,  半導体超微細化 ,  反応粒子輸送 ,  プラズマエッチング ,  表面ラフネス ,  マイクロプラズマ ,  亜音速・超音速流れ場 ,  エッチング ,  高温反応場
競争的資金等の研究課題 (13件):
  • 2021 - 2023 電子捕獲準位の誘電損失機構を活用したナノ薄膜の欠陥回復と信頼性向上に関する研究
  • 2020 - 2023 パラメータ分離型アーク放電による窒化ホウ素膜のsp結合制御と機能設計の研究
  • 2017 - 2019 ゆらぎの確率過程を用いたマイクロ流体デバイス内の現象予測と信頼性評価技術の開発
  • 2016 - 2019 確率過程モデルにもとづくナノ構造体における欠陥制御型プロセス設計手法の研究
  • 2015 - 2018 イオンエネルギー確率分布関数制御型プラズマによる窒化ホウ素薄膜の組成制御の研究
全件表示
論文 (155件):
  • Keiichiro Urabe, Minami Toyoda, Yoshinori Matsuoka, Koji Eriguchi. Investigation of small-fraction molecular impurities in high-pressure helium plasmas using optical plasma diagnostic methods. Plasma Sources Science and Technology. 2024. 33. 2. 025011-025011
  • Junki Morozumi, Takahiro Goya, Tomohiro Kuyama, Koji Eriguchi, Keiichiro Urabe. In situ electrical monitoring of SiO2/Si structures in low-temperature plasma using impedance spectroscopy. Japanese Journal of Applied Physics. 2023. 62. SI. SI1010-SI1010
  • Yoshihiro Sato, Satoshi Shibata, Kazuko Nishimura, Masayuki Yamasaki, Masashi Murakami, Keiichiro Urabe, Koji Eriguchi. Predicting the effects of plasma-induced damage on p-n junction leakage and its application in the characterization of defect distribution. Journal of Vacuum Science & Technology B. 2022. 40. 6. 062209-062209
  • Seiya Kito, Keiichiro Urabe, Koji Eriguchi. Multi-harmonic analysis in a floating harmonic probe method for diagnostics of electron energy and ion density in low-temperature plasmas. Japanese Journal of Applied Physics. 2022. 61. 10. 106002-106002
  • T. Matsuda, T. Hamano, Y. Asamoto, M. Noma, M. Yamashita, S. Hasegawa, K. Urabe, K. Eriguchi. Ion irradiation-induced sputtering and surface modification of BN films prepared by a reactive plasma-assisted coating technique. Japanese Journal of Applied Physics. 2022. 61. SI. SI1014-SI1014
もっと見る
MISC (151件):
  • 松田崇行, 濱野誉, 朝本雄也, 野間正男, 山下満, 長谷川繁彦, 占部継一郎, 江利口浩二. イオンフラックス制御型反応性プラズマ支援成膜法による窒化ホウ素膜構造制御に関する研究. 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2021. 82nd
  • 朝本雄也, 松田崇行, 濱野誉, 野間正男, 長谷川繁彦, 山下満, 占部継一郎, 江利口浩二. 熱電子供給型真空アーク放電の放電電流決定機構に基づくプロセス制御. 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2021. 82nd
  • Tatsuru Shirafuji, Keizo Kinoshita, Hiroshi Akatsuka, Koji Eriguchi, Takashi Ichikawa, Takanori Ichiki, Tatsuo Ishijima, Kenji Ishikawa, Kazuhiro Karahashi, Kazuaki Kurihara, et al. Dry Process FOREWORD. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2020. 59
  • 占部継一郎, 住平透, 野間正男, 山下満, 長谷川繁彦, 江利口浩二. 反応性プラズマ支援成膜法により堆積した窒化ホウ素薄膜の機械的特性と耐プラズマ性に関する研究. 日本航空宇宙学会中部・関西支部合同秋期大会講演論文集(CD-ROM). 2019. 56th
  • 江利口 浩二, 占部 継一郎. 先端CMOS/メモリデバイスにおけるプラズマ加工技術の現状と課題. 応用物理. 2018. 87. 12. 895-901
もっと見る
書籍 (9件):
  • 最新 実用真空技術総覧
    (株)エヌ・ティー・エス, 2019 2019
  • 先端CMOS/メモリデバイスにおけるプラズマ加工技術の現状と課題
    応用物理 第87巻 第12号 2018
  • 真空科学ハンドブック
    株式会社コロナ社(日本真空学会 編) 2018
  • プラズマプロセス技術
    森北出版株式会社 2017
  • プラズマプロセスの新しい応用
    ケミカルエンジニヤリング 2013
もっと見る
講演・口頭発表等 (29件):
  • Plasma-Induced Damage: Modeling and Characterization
    (2022 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) 2022)
  • Plasma-induced damage
    (2021 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), Reliability Experts Forum 2021)
  • Comprehensive Characterization of Surface Modification Mechanisms in Boron Nitride Films Prepared by a Reactive Plasma-assisted Coating Technique
    (The 47th ICMCTF 2021)
  • Evaluation methodology for assessment of dielectric degradation and breakdown dynamics using time-dependent impedance spectroscopy (TDIS)
    (IEEE Int. Reliability Physics Symp (IRPS) 2021)
  • Plasma-induced Damage-Modeling and Characterizations
    (International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2020) 2020)
もっと見る
経歴 (3件):
  • 2016/07 - 現在 京都大学 工学(系)研究科(研究院) 教授
  • 2005/07 - 2016/06 Kyoto University 工学(系)研究科(研究院) 准教授
  • 1991/04 - 2005/07 パナソニック
委員歴 (26件):
  • 2007 - 現在 IEEE IRPS-Process Integration subcommittee Chair (2007-2008), Management committee (2011-), Technical Program Chair (2022), General Chair (2024)
  • 2004 - 現在 IEEE ICICDT-Conference Chair (2009), General Chair (2010), Tutorial Chair (2014, 2015), Secretary (2016-2018), Tutorial Chair (2021)
  • 2021/03 - 2023/03 応用物理学会 機関誌編集委員
  • 2019 - 2020 日本航空宇宙学会 関西支部 幹事
  • 2017/04/01 - 2019/03/31 応用物理学会 シリコンテクノロジー分科会 幹事(会計)
全件表示
受賞 (30件):
  • 2022/10 - IEEE EDS Kansai Chapter MFSK IEEE EDS Kansai Chapter MFSK Award
  • 2022/03 - IEEE IRPS 2021 Technical Program AWARDS: BEST STUDENT PAPER
  • 2021/11 - 42nd International Symposium on Dry Process (DPS2021) DPS 2019 Young Researcher Award
  • 2021/11 - 42nd International Symposium on Dry Process (DPS2021) DPS 2019 Young Researcher Award
  • 2021/09 - IEEE EDS Kansai Chapter IEEE EDS Kansai Chapter of the Year Award
全件表示
所属学会 (5件):
日本航空宇宙学会 ,  日本真空学会 ,  応用物理学会:シリコンテクノロジー分科会,プラズマエレクトロニクス分科会 ,  AVS (American Vacuum Society) ,  IEEE (The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.): Electron Device Society, Reliability Society
※ J-GLOBALの研究者情報は、researchmapの登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、こちらをご覧ください。

前のページに戻る