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J-GLOBAL ID：201402206587766620   整理番号：14A1470028

Heliotron JでのNd:YAG Thomson散乱システムを用いる電子温度分布の時間発展の最初の測定

First measurement of time evolution of electron temperature profiles with Nd:YAG Thomson scattering system on Heliotron J

著者 (18件)： KENMOCHI N. (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  MINAMI T. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  TAKAHASHI C. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  TEI S. (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  MIZUUCHI T. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  KOBAYASHI S. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  NAGASAKI K. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  NAKAMURA Y. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  OKADA H. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  KADO S. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  YAMAMOTO S. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  OHSHIMA S. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  KONOSHIMA S. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  SHI N. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  ZANG L. (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  OHTANI Y. (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  KASAJIMA K. (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN) ,  SANO F. (Inst. of Advanced Energy, Kyoto Univ., Gokasho, Uji 611-0011, JPN)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 85  号： 11  ページ： 11D819-11D819-3  発行年： 2014年11月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Nd:YAG Thomson散乱システムを,Heliotron Jのために開発した。そのシステムは,二つの550mJ,50Hzレーザ,大型収集光学系,及び25の径方向チャネル(約1cmの空間分解能)干渉ポリクロメータから成る。この測定システムは,低密度プラズマ(n_e≒0.5×10¹⁹m^-3)について,約50のS/N比を達成する。電子温度分布の時間発展を,このシステムを用いて,高強度ガスパフ(HIGP)燃料供給する中性ビーム入射プラズマについて測定した。HIGPの後の高密度相の周辺温度は,低密度プレHIGPのレベルに回復し,HIGPプラズマにおける改善した粒子輸送が可能かもしれないことを示唆する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ヘリオトロン ,  Nd-YAGレーザ ,  *Thomson散乱 ,  プラズマ分光 ,  *電子温度 ,  温度分布 ,  時間発展 ,  SN比 ,  輸送現象

分類 (2件)： プラズマ一般  (BJ02010B) ,  プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (6件)： Nd ,  YAG ,  Thomson散乱 ,  電子温度 ,  分布 ,  発展