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J-GLOBAL ID：201402213024787937   整理番号：14A0058745

温度依存分光偏光解析法により明らかにしたマルチフェロイックBi_1-xLa_xFe_1-yTi_yO₃セラミックのバンド間電子遷移と相転移

Interband electronic transitions and phase transformation of multiferroic Bi_1-xLa_xFe_1-yTi_yO₃ ceramics revealed by temperature-dependent spectroscopic ellipsometry

著者 (8件)： XU L. P. (Key Lab. of Polar Materials and Devices (MOE), Dep. of Electronic Engineering, East China Normal Univ., Shanghai ...) ,  ZHANG L. L. (Functional Material Res. Lab., Tongji Univ., Shanghai 200092, CHN) ,  JIANG P. P. (Key Lab. of Polar Materials and Devices (MOE), Dep. of Electronic Engineering, East China Normal Univ., Shanghai ...) ,  YU J. (Functional Material Res. Lab., Tongji Univ., Shanghai 200092, CHN) ,  DUAN Z. H. (Key Lab. of Polar Materials and Devices (MOE), Dep. of Electronic Engineering, East China Normal Univ., Shanghai ...) ,  HU Z. G. (Key Lab. of Polar Materials and Devices (MOE), Dep. of Electronic Engineering, East China Normal Univ., Shanghai ...) ,  ZHU Z. Q. (Key Lab. of Polar Materials and Devices (MOE), Dep. of Electronic Engineering, East China Normal Univ., Shanghai ...) ,  CHU J. H. (Key Lab. of Polar Materials and Devices (MOE), Dep. of Electronic Engineering, East China Normal Univ., Shanghai ...)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 114  号： 23  ページ： 233509-233509-8  発行年： 2013年12月21日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *ビスマス化合物 ,  *鉄化合物 ,  *ランタン ,  *チタン ,  *酸化物 ,  *ドーピング ,  *セラミック ,  *電子遷移 ,  *相転移 ,  *偏光解析法 ,  温度依存性 ,  光学的性質 ,  化学組成 ,  誘電関数 ,  臨界点 ,  モデル ,  磁気転移 ,  強誘電性 ,  秩序パラメータ ,  スピン-フォノン相互作用 ,  Neel温度 ,  電子構造 ,  磁気秩序 ,  磁気モーメント ,  交換相互作用 ,  X線回折
準シソーラス用語： *バンド間遷移 ,  *マルチフェロイック ,  常磁性-反強磁性転移 ,  組成依存性 ,  分光偏光解析法

分類 (4件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  絶縁体結晶の電子構造  (BM02070Y) ,  酸化物結晶の磁性  (BM06050E) ,  光物性一般  (BM08010A)

タイトルに関連する用語 (7件)： 温度依存 ,  分光偏光解析法 ,  マルチフェロイック ,  セラミック ,  バンド ,  電子遷移 ,  相転移