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J-GLOBAL ID：201402215342453404   整理番号：14A0317130

X線自由電子レーザによるGe₂Sb₂Te₅のピコ秒格子変形の直接観測

Direct Observation of Picosecond Lattice Deformation of Ge₂Sb₂Te₅ by X-ray Free-Electron Laser

著者 (13件)： TOKUDA Kazuya (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KAWAGUCHI Tomoya (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  SAKAIDA Masashi (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  SATO Takahiro (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  TOGASHI Tadashi (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  OGAWA Kanade (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  YABASHI Makina (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  ICHITSUBO Tetsu (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUNAGA Toshiyuki (Panasonic, Osaka, JPN) ,  TANAKA Yoshihito (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  NISHINO Yoshinori (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  YAMADA Noboru (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUBARA Eiichiro (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名： Proceedings of the Symposium on Phase Change Oriented Science  (Proceedings of the Symposium on Phase Change Oriented Science)
巻： 25th  ページ： 10-13  発行年： 2013年 
JST資料番号： L1450A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： パルスレーザ ,  フェムト秒 ,  時間依存性 ,  *自由電子レーザ ,  Bragg反射 ,  レーザ励起 ,  *X線回折 ,  変形 ,  格子 ,  *X線レーザ ,  ピコ秒 ,  *相転移 ,  ポンププローブ法 ,  計測 ,  *ゲルマニウム化合物 ,  テルル化物 ,  アンチモン化物 ,  半導体薄膜 ,  *X線自由電子レーザ ,  フェムト秒レーザ ,  Bragg回折 ,  *格子変形 ,  直接測定 ,  粉末回折
準シソーラス用語： 経過時間依存性

分類 (3件)： 相転移・臨界現象一般  (BL04010V) ,  その他のレーザ  (BD04090H) ,  X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (4件)： X線自由電子レーザ ,  ピコ秒 ,  格子変形 ,  観測