抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本文ではダイヤモンド半導体デバイス基板に必須な高品位表面を実現することを目的とし,そのために必要な研磨メカニズムの解明に取り組んだ。研磨面性状や研磨レートに及ぼす紫外線(UV)照射の効果や加工雰囲気の影響を調べ,研磨中のCOガスの検出や発光現象の解析,研磨粉のTEM観察などにより研磨メカニズムに考察を加え,研磨モデルを提案した。このモデルをもとにダイヤモンド半導体デバイス基板の研磨条件を設定し,高品位なダイヤモンド基板が得られたので報告する。本研究では,UVアシスト研磨の加工メカニズムを実験的に検討した。研究結果は次の通りである。1)酸素雰囲気,大気中,窒素雰囲気においてUV照射の有無での研磨レートを測定し,酸素100%のUVアシスト研磨における研磨レートがもっとも高いことがわかった。2)ダイヤモンド基板と石英の高速摩擦によりトライボマイクロプラズマが発生する研磨モデルを提案した。研磨中の発光現象のスペクトル解析により,窒素の電子遷移がトライボマイクロプラズマを発生していることを確かめ,提案した研磨モデルの正当性を確認した。3)UV照射による光化学反応によりダイヤモンドが酸化されるモデルを提案し,COガスの放出の確認,濃度と研磨条件の強い相関,酸素100%における高い研磨レートにより,提案したモデルの正当性を確かめた。