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J-GLOBAL ID：201402217196089773   整理番号：13A1973028

Ce_1-xPr_xO_2-δカソード上における酸素および酸化窒素の低温での電気化学還元

Electrochemical reduction of oxygen and nitric oxide at low temperature on Ce_1-x Pr _x O_2-δ cathodes

著者 (2件)： WERCHMEISTER Rebecka M.L. ,  HANSEN Kent Kammer
資料名： Electrochimica Acta  (Electrochimica Acta)
巻： 114  ページ： 474-477  発行年： 2013年12月30日 
JST資料番号： B0535B  ISSN： 0013-4686  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： NOおよびO₂を電気化学的に還元するためのプラセオジムドープ酸化セリウム材料の能力を,200~400°Cの温度範囲で,サイクリックボルタンメトリーと併せて円錐形電極を使用することにより研究した。Ce_1-xPr_xO_2-δ(x=0.1,0.2,0.3および0.4)の4つのサンプルについて研究した。その結果,NOおよびO₂の両方のガスにおける電流密度は,プラセオジムドーピングの増加と共に増大したことが示された。Ce_1-xPr_xO_2-δは,多くの事例において,O₂を含有する雰囲気よりも,NOを含有する雰囲気で一段と高度な活性を有し,その動向は,温度が低くなるにつれて,強くなった。Ce_0.8Pr_0.2O_2-δおよびCe_0.9Pr_0.1O_2-δは,O₂の還元と比べてNOの還元へ向かう一段と高度な活性の指標として用いられる,最大カソード電流密度の最高比率を有するものとみなせた。あらゆる組成物に対するみかけ選択性は,概して,温度上昇につれて減少した。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *金属酸化物 ,  *セシウム化合物 ,  *プラセオジム化合物 ,  *カソード還元 ,  電極材料 ,  酸素 ,  酸化窒素 ,  ドーピング ,  電流密度 ,  選択性
準シソーラス用語： *酸化セリウムプラセオジム ,  カソード材料 ,  酸素還元反応

分類 (2件)： 電気化学反応  (CB07050F) ,  電解装置  (XE02030E)

タイトルに関連する用語 (5件)： カソード ,  酸素 ,  酸化窒素 ,  低温 ,  電気化学還元