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J-GLOBAL ID：201402217828649460   整理番号：14A0231392

電子ビームプローブを用いて感光体上に形成された静電潜像の高分解能測定

High-Resolution Measurement of Electrostatic Latent Image Formed on Photoconductor using Electron Beam Probe

著者 (1件)： SUHARA Hiroyuki
資料名： 日本画像学会誌  (Journal of Imaging Society of Japan)
巻： 52  号： 6  ページ： 501-508 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： G0323A  ISSN： 1344-4425  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 感光体上に静電潜像の測定を可能にする新規な方法を提案した。静電潜像は,真空チャンバ内に帯電感光体のレーザー露光により形成した。この方法の重要な特徴は,帯電,露光,及び検出装置が,リ感光体上の静電潜像の測定を可能にする新規な方法を提案した。真空チャンバ内で感光体を帯電させレーザー露光により静電潜像を形成する。この方法の重要な特徴は,帯電,露光,及び検出装置が,リアルタイムに測定をすべて可能であること,同一システム内に組み込まれていることである。電子ビームプローブの走査により発生する2次電子を検出することによって静電潜像は測定される。1次電子ビームが感光体に当たったとき,2次電子を生成する。帯電領域で発生した2次電子は電子検出器に移行する。対照的に,露光部に発生した2次電子は感光体のほうに引き戻され,検出器に達した二次電子の数を減少させる。この方法は,ミクロンオーダーの高分解能測定で良好な性能を有する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： プラズマ探針 ,  電子ビーム ,  *静電印刷 ,  *潜像 ,  高分解能 ,  レーザプリンタ ,  像形成 ,  計測 ,  電子 ,  帯電 ,  *画像技術 ,  感光層 ,  複写機
準シソーラス用語： *Scheimpflug撮像法 ,  リアルタイム計測 ,  二次電子

分類 (2件)： 入出力装置  (JC04050U) ,  写真感光理論  (ZA02020J)

引用文献 (11件)：

• 1) E. J. Yarmchuk and AG.E. Keefe, “High-resolution surface charge measurements on an organic photoconductor, ” J. Appl. Phys., 66 (11), pp. 5435-5439 (1989).
• 2) Jun-ichi Takahashi and Tomomi Katoh, “High Voltage and High Resolution Surface Potential Imaging using Scanning Electrostatic Force Microscope, ” T. IEE Japan, Vol.117-E, No. 12, pp594-599 [in Japanese].
• 3) G. F. Fritz, D. C. Hoesterey and L. E. Brady, “Observation of Xerographic Electrostatic Latent Images with a Scanning Electron Microscope,” Appl. Phys. Lett., 19 (8), pp. 277-278 (1971).
• 4) H. Fudouzi, M. Egashira and N. Shinya, “Drawing and Observation of Electrified Images on Ceramic Substrates Using Electron Beam,” Journal of the Ceramic Society of Japan, 104 (6), pp556-561 (1996) [in Japanese].
• 5) H. Suhara, “Measurement of Electrostatic Latent Image on Photoconductors by Use of Electron Beam Probe,” Proc. NIP25, pp. 482-485 (2009).

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子ビーム ,  プローブ ,  感光体 ,  静電潜像 ,  高分解能