ZAUNER G. について
Univ. Applied Sci. Upper Austria, Wels, AUT について
SCHAGERL M. について
Univ. Applied Sci. Upper Austria, Wels, AUT について
Proceedings of SPIE について
板ガラス について
製品 について
品質検査 について
コンピュータビジョン について
ディジタル画像 について
画像処理 について
欠陥検査 について
特徴抽出 について
パターン分類 について
画像認識 について
計算機アルゴリズム について
サポートベクトルマシン について
多層パーセプトロン について
機械学習 について
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パターン認識 について
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