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J-GLOBAL ID：201402230389964767   整理番号：14A1064876

遅延測定による任意のc軸アラインメントでの方位角の定量的な解析法

A method for quantitatively analyzing the angle of direction for arbitral c-axis alignment with retardation measurements

著者 (2件)： SHIMOI Norihiro ,  TANAKA Yasumitsu
資料名： Optics & Laser Technology  (Optics & Laser Technology)
巻： 65  ページ： 189-193  発行年： 2015年01月 
JST資料番号： D0245B  ISSN： 0030-3992  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高分子や結晶構造でのc軸アラインメントは,結晶成長,薄膜成長,電気光学デバイス,位相差光学系など,多くの科学的および技術的分野で注目されている。c軸アラインメントの方向を計測するために,遅延測定に基づく新しい方法を実証した。高分解能の測定能力を有する遅延解析装置を利用した。薄い光学フィルムとして液晶パネルを用いて,連続結晶の三次元方向の視覚化を行なった。c軸アラインメント方向の解析により,平面に垂直な方向で詳細なキャラクタリゼーションが可能になった。この解析では,c軸アラインメント方向を確認し,非等価サイトの相違を定量化した。この結果,c軸アラインメントで潤滑特性が優れているのは,横方向での局在性に起因することが分かった。Copyright 2014 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： キャラクタリゼーション ,  アラインメント ,  光学素子 ,  パネル ,  液晶 ,  薄膜成長 ,  遅れ ,  結晶構造 ,  高分解能 ,  潤滑 ,  *光学的測定 ,  遅延特性 ,  *結晶方位 ,  方位角 ,  *方位角測定 ,  可視化 ,  三次元 ,  横方向 ,  局所性
準シソーラス用語： 液晶パネル

分類 (1件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 遅延 ,  C軸 ,  アラインメント ,  方位角 ,  定量 ,  解析法