文献

J-GLOBAL ID：201402230874344890   整理番号：14A0444078

Nbを用いるMoS₂薄膜のp型ドーピング

p-type doping of MoS₂ thin films using Nb

著者 (15件)： LASKAR Masihhur R. (Dep. of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  NATH Digbijoy N. (Dep. of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  MA Lu (Dep. of Chemistry, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  LEE Edwin W. (Dep. of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  LEE Choong Hee (Dep. of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  KENT Thomas (Dep. of Material Sci. and Engineering, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  YANG Zihao (Dep. of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  MISHRA Rohan (Dep. of Physics and Astronomy, Vanderbilt Univ., Nashville, Tennessee 37235, USA) ,  ROLDAN Manuel A. (Materials Sci. and Technol. Div., Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, Tennessee 37831, USA) ,  IDROBO Juan-carlos (Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, Tennessee 37831, USA) ,  PANTELIDES Sokrates T. (Dep. of Physics and Astronomy, Vanderbilt Univ., Nashville, Tennessee 37235, USA) ,  PENNYCOOK Stephen J. (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Tennessee, Knoxville, Tennessee 37996, USA) ,  MYERS Roberto C. (Dep. of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  WU Yiying (Dep. of Chemistry, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA) ,  RAJAN Siddharth (Dep. of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State Univ., Columbus, Ohio 43210, USA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 104  号： 9  ページ： 092104-092104-4  発行年： 2014年03月03日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *硫化モリブデン ,  化合物半導体 ,  *ドーピング ,  ニオブ ,  *半導体薄膜 ,  P型半導体 ,  化学蒸着 ,  キャリア密度 ,  キャリア移動度 ,  X線回折 ,  Ramanスペクトル ,  品質 ,  吸収端 ,  光吸収 ,  透過型電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  原子間力顕微鏡 ,  顕微鏡観察
準シソーラス用語： 結晶品質 ,  正孔密度

分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： Nb ,  MoS2 ,  薄膜 ,  p型ドーピング