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J-GLOBAL ID：201402235237869523   整理番号：14A0141484

SOS技術で作製した自己バイアスリング発振器PLLとLC PLLに及ぼすシングルイベント過渡効果

Single-Event Transient Effect on a Self-Biased Ring-Oscillator PLL and an LC PLL Fabricated in SOS Technology

著者 (6件)： GUO Shita (Southern Methodist Univ., TX, USA) ,  LI Jingxiao (Southern Methodist Univ., TX, USA) ,  GUI Ping (Southern Methodist Univ., TX, USA) ,  REN Yi (Univ. Saskatchewan, SK, CAN) ,  CHEN Li (Univ. Saskatchewan, SK, CAN) ,  BHUVA Bharat L. (Vanderbilt Univ., TN, USA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 60  号： 6,Pt.2  ページ： 4668-4672  発行年： 2013年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 位相同期ループ(PLL)は人工衛星や通信回路の極めて重要な回路ブロックである。PLL上のシングルイベント効果(SEE)による故障は通信ネットワークシステム全体に誤りをもたらす。本研究では,2GHz以上で動作する0.25μmのサファイア上シリコン(SOS)技術に基づくリング発振器に基づくPLLと,LCタンクに基づくPLLの過渡SEEを回路レベルのシミュレーションとレーザ実験により調べた。電圧制御発振器(VOC)及び電荷ポンプ低域フィルタブロックは両PLL設計における敏感な回路であることを示した。

シソーラス用語： 過渡現象 ,  SEU【シングルイベント】 ,  *位相同期ループ ,  SOS構造 ,  回路シミュレーション ,  *VCO【発振器】 ,  低域フィルタ
準シソーラス用語： *シングルイベント過渡現象 ,  シングルイベント効果 ,  電圧制御発振器 ,  SET【シングルイベント】

分類 (1件)： 発振回路  (NC05020Y)

タイトルに関連する用語 (6件)： SOS技術 ,  作製 ,  自己バイアス ,  リング発振器 ,  PLL ,  イベント