DE CHIFFRE L. について
Technical Univ. of Denmark (DTU), Dep. of Mechanical Engineering, DNK について
CARMIGNATO S. について
Univ. of Padova, DTG, Dep. of Management and Engineering, ITA について
KRUTH J.-p. について
Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven), Dep. of Mechanical Engineering, Div. PMA, BEL について
SCHMITT R. について
RWTH Aachen Univ., WZL, Chair of Metrology and Quality Management, DEU について
WECKENMANN A. について
Univ. Erlangen-Nuremberg, Chair Quality Management and Manufacturing Metrology (QFM), DEU について
CIRP Annals. Manufacturing Technology について
産業 について
品質管理 について
計量 について
製造業 について
食品加工 について
電機電子工業 について
画像処理 について
産業界 について
寸法計測学 について
市場動向 について
コンピューター断層撮影 について
計算機トモグラフィー について
図形・画像処理一般 について
産業界 について
CT について
応用 について