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J-GLOBAL ID:201402241723437147   整理番号:14A0064758

ナノポーラス材料の新展開 アノード酸化ポーラスアルミナ皮膜を用いたシリコンのナノ構造制御

著者 (2件):
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巻: 65  号:ページ: 18-23  発行年: 2014年01月01日 
JST資料番号: G0441B  ISSN: 0915-1869  CODEN: HYGIEX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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アノード酸化ポーラスアルミナ皮膜は,単に金属への絶縁性・耐食性・装飾性付与の機能に留まらず,現在はナノデバイス作製など多用な分野で機能材料としての活用がなされている。本稿では,特に,シリコン上にスパッタ付与したAl薄膜のアノード酸化により形成したポーラスアルミナ皮膜の持つナノ構造と規則牲を活用したシリコン基板の微細加工に焦点を絞り,非リソグラフィー技術による半導体表面へのアスペクト比の高いナノポーラス規則構造の付与について解説する。これらの手法はシリコン以外の半導体にも適用可能であり,真空系など高度な装置を用いずに大面積の加工が可能であるという大きな利点がある。
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分類 (2件):
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固体デバイス材料  ,  化成処理 
引用文献 (32件):
  • 1)小野幸子 ; 軽金属, 60, 333(2010).
  • 2) F. Keller, M. S. Hunter, D. L. Robinson ; J. Electrochem. Soc., 100, 411 (1953).
  • 3) H. Masuda, K. Fukuda ; Science, 268, 1466 (1995).
  • 4) D. Crouse, Y.-H. Lo, A. E. Miller, M. Crouse ; Appl. Phys. Lett., 76, 49 (2000).
  • 5) S. Shingubara, O. Okino, Y. Murakami, H. Sakaue, T. Takahagi ; J. Vac. Sci. Technol. B, 19, 1901 (2001).
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