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J-GLOBAL ID：201402243683825753   整理番号：13A1956020

TST-2におけるダブルパスThomson散乱診断システムによる軸外温度異方性の測定

Off-Axis Temperature Anisotropy Measurement by Double-Pass Thomson Scattering Diagnostic System on TST-2

著者 (19件)： HIRATSUKA Junichi (The Univ. of Tokyo) ,  EJIRI Akira (The Univ. of Tokyo) ,  HASEGAWA Makoto (Kyushu Univ.) ,  NAGASHIMA Yoshihiko (Kyushu Univ.) ,  TAKASE Yuichi (The Univ. of Tokyo) ,  TOJO Hiroshi (Japan Atomic Energy Agency) ,  YAMAGUCHI Takashi (The Univ. of Tokyo) ,  AMBO Takanori (The Univ. of Tokyo) ,  FURUI Hirokazu (The Univ. of Tokyo) ,  HASHIMOTO Takahiro (The Univ. of Tokyo) ,  KAKUDA Hidetoshi (The Univ. of Tokyo) ,  KATO Kunihiko (The Univ. of Tokyo) ,  OOSAKO Takuya (The Univ. of Tokyo) ,  SAKAMOTO Takuya (The Univ. of Tokyo) ,  SHINO Ryota (The Univ. of Tokyo) ,  SHINYA Takahiro (The Univ. of Tokyo) ,  SONEHARA Masateru (The Univ. of Tokyo) ,  WAKATSUKI Takuma (The Univ. of Tokyo) ,  WATANABE Osamu (The Univ. of Tokyo)
資料名： Plasma and Fusion Research (Web)  (Plasma and Fusion Research (Web))
巻： 7  ページ： 2402092-2402092 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： U0045A  ISSN： 1880-6821  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Thomson散乱はプラズマ電子密度と温度を測定する有力な手段である。標記球形トカマクのように電子密度が低いプラズマでは,プローブレーザ光パルスを複数回通過させて散乱光信号を増倍させることが有効である。またマルチパス散乱配位では,温度異方性を測定できる利点もある。ダブルパルス配位を有する多点Thomson散乱システムを開発するとともに,新しい集光光学系を導入した。4本の光ファイバと4台のポリクロメータを用い,標記装置のプラズマ中4地点の電子温度と密度を同時測定した。このシステムを用い,前方および後方散乱をダブルパス配位で計測し,軸外の温度異方性を測定した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *トカマク ,  *Thomson散乱 ,  プラズマ診断 ,  電子温度 ,  *温度測定 ,  異方性 ,  *温度依存性
準シソーラス用語： *ダブルパス配位 ,  マルチパス散乱計測 ,  球形トカマク ,  多点診断

分類 (2件)： 核融合装置  (BJ02083Z) ,  プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (5件)： TST-2 ,  パス ,  Thomson散乱 ,  診断システム ,  温度異方性