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J-GLOBAL ID：201402246678737314   整理番号：14A0146704

X線マイクロCT技術の電子基板の信頼性評価および設計への適用

Application of Synchrotron Radiation X-ray Micro-tomography to Design and Evaluation of Reliability for Electronic Substrate

著者 (6件)： 釣谷浩之 (富山県工技セ) ,  佐山利彦 (富山県工技セ) ,  岡本佳之 (コーセル) ,  高柳毅 (コーセル) ,  上杉健太郎 (高輝度光科学研究セ) ,  森孝男 (富山県大)
資料名： 富山県工業技術センター研究報告  (Report of the Toyama Industrial Technology Center)
号： 26  ページ： 126-127  発行年： 2012年07月27日 
JST資料番号： X0426B  ISSN： 0914-2207  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線 ,  マイクロCT ,  電子 ,  信頼性評価 ,  設計