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J-GLOBAL ID：201402249673354432   整理番号：14A0876432

抵抗材料と抵抗素子における変動現象

Fluctuating phenomena in resistive materials and devices

著者 (1件)： STADLER A. W. (Rzeszow Univ. Technol., Rzeszow, POL)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 8902  ページ： 890222.1-890222.16  発行年： 2013年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 種々の抵抗材料や導電材料から作られた厚膜抵抗器の雑音測定による調査について述べた。雑音測定に使用したいくつかの典型的な回路を示し,その長所と短所を指摘した。0.3Kから350Kまでの広範囲の温度で,雑音の成分を明らかにした。すべての調査した試料の全温度範囲で,抵抗の変動から生じる1/f雑音が支配的であった。調査した抵抗層の雑音特性の定性的表現のために,材料雑音強度Cを定義した。そのパラメータCは,周波数,バイアスおよび体積に無関係である。種々の技術の使用により作られ,種々の抵抗率を持つ材料の雑音特性の比較のため,1/f雑音に関して技術品質と材料の性能指数としてパラメータKを導入した。種々の抵抗材料の雑音特性の比較のために,CとKを使用した。また,ACとDCブリッジ構成,相互相関技術および低周波雑音スペクトロスコピー(LFNS)などを含む種々の方法を使用して,電圧変動のパワースペクトル密度を測定した。

シソーラス用語： 1/f雑音 ,  *厚膜抵抗器 ,  低周波雑音 ,  スペクトロスコピー ,  導体材料 ,  電気抵抗材料 ,  *雑音測定 ,  電気抵抗率 ,  雑音特性 ,  パワースペクトル密度
準シソーラス用語： 抵抗率 ,  導電材料

分類 (2件)： 雑音測定  (ND04030F) ,  LCR部品  (NA05030D)

タイトルに関連する用語 (2件)： 抵抗素子 ,  現象