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J-GLOBAL ID:201402250233992702   整理番号:14A1021611

ワイヤ擦過援用ウェットエッチングによるシリコンの高アスペクト比溝形成(シリコンインゴットの切断に向けた基礎的検討)

High aspect ratio grooving of Si using a wet etching assisted by wire-friction (A feasibility study for the applicaiotn for slicing Si ingots)
著者 (4件):
資料名:
巻: 80  号: 815  ページ: SMM0183 (WEB ONLY)  発行年: 2014年 
JST資料番号: U0182B  ISSN: 2187-9761  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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太陽電池用シリコンの新しい切断技術として砥粒を用いない化学的な加工方法を開発した。本加工法は薬液中でシリコンをワイヤで擦過することによりスライシングを行う。本研究ではシリコンの切断特性を評価した。その結果エッチャントの組成を最適化することで約100μmの低溝幅による加工が行えた。SEMによる観察では,スライス面にクラックや加工痕の無い加工が行えている事が確認された。またラマン分光法によるスライス面品質の評価では,アモルファス層が形成されていないことが分かった。スライス面の粗さはエッチャントに酢酸を加えることで低減された。(著者抄録)
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