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J-GLOBAL ID：201402256357211804   整理番号：14A0090593

アルゴリズムによる耐雑音性の統計的解析

STATISTICAL ANALYSIS OF ALGORITHMIC NOISE TOLERANCE

著者 (2件)： KIM Eric P. (Univ. Illinois at Urbana-Champaign) ,  SHANBHAG Naresh R. (Univ. Illinois at Urbana-Champaign)
資料名： Proceedings. IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing  (Proceedings. IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing)
巻： 2013 Vol.4  ページ： 2731-2735  発行年： 2013年 
JST資料番号： E0316B  ISSN： 1520-6149  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アルゴリズムによる耐雑音性(ANT)は,主ブロックに比べ誤りを生じ難い計算量の少ない推定器を利用して耐雑音性を実現する,ディジタル信号処理用の効果的な統計的誤差補償技法である。ANTの設計で重要な設計パラメータである閾値τは,従来は経験的に選択されて来た。本論文は,ANTとBayes検出・推定との間のリンクを確立してANTは以下の二段プロセスの近似と見なせることを示し,性能最適なANTベースシステムの設計方法を示した。1)誤差事象の最適Bayes検出,2)正しい値の最適MMSE推定。最適閾値τを決定する表現を導出し,モンテカルロシミュレーションにより得た最適閾値と比較したが8%以内の差で一致した。また45nm CMOSプロセスで実装した二次元DCTに対する実験では,7.8%差という類似結果を得た。

シソーラス用語： *耐雑音性 ,  アルゴリズム ,  計算量 ,  信号処理 ,  補償 ,  *Bayes推定 ,  パラメータ ,  変数 ,  閾値 ,  パラメータ推定 ,  誤差 ,  シミュレーション ,  半導体プロセス ,  DCT【変換】 ,  実験 ,  *最適設計
準シソーラス用語： CMOSプロセス ,  MMSE ,  ディジタル信号処理 ,  モンテカルロシミュレーション ,  検出閾値 ,  誤差補償 ,  *信号処理アルゴリズム ,  *性能最適化 ,  設計パラメータ ,  評価実験

分類 (2件)： 信号理論  (ND02020G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： アルゴリズム ,  耐雑音性 ,  統計的解析