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J-GLOBAL ID:201402256849662917   整理番号:14A0226335

Au/Cr2O3/FeCr/CeO2/Siキャパシタにおける磁気フィルタ効果を利用した注入電荷調節

Injected Charge Modulation Using Magnetic Filtering Effect in Au/Cr2O3FeCr/CeO2/Si Capacitor
著者 (4件):
資料名:
巻: 11  ページ: 122-126 (J-STAGE)  発行年: 2013年 
JST資料番号: U0016A  ISSN: 1348-0391  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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絶縁体が,磁性材料から成る金属(Au)/絶縁体(Cr2O3/FeCr/CeO2)/半導体(Si)キャパシタのキャリア注入過程に対する外部磁場影響を調べた。電場印加により,SiからCeO2層を通して伝播する電子は,FeCr層や,FeCr層周辺で生成する酸素欠乏層へ注入される。磁場印加時,本キャパシタのヒステリシス窓幅が増加した。磁場下のI-V曲線分析では,この増加はFeCr層の磁気状態に因ると思われることを明らかにした。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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LCR部品  ,  金属-絶縁体-半導体構造 
引用文献 (18件):
  • [1] N. Nur, S. Park, P. A. Sharma, J. S. Ahn, S. Guha, and S.-W. Cheong, Nature 429, 392 (2004).
  • [2] J. Wang, J. B. Neaton, H. Zheng, V. Nagarajan, S. B. Ogale, B. Liu, D. Viehland, V. Vaithyanathan, D. G. Schlom, U. V. Waghmare, N. A. Spaldin, K. M. Rabe, M, Wuttig, and R. Ramesh, Science 299, 1719 (2003).
  • [3] T. Lottermoser, T. Lonkai, U. Amann, D. Hohlwein, J. Ihringer, and M. Fiebig, Nature 430, 541 (2004).
  • [4] E. Kita, A. Tasaki, and K. Siratori, Jpn. J. Appl. Phys. 18, 1361 (1979).
  • [5] T. Yokota, T. Kuribayashi, M. Gomi, T. Shundo, and Y. Sakakibara, Adv. Mater. Res. 11-12, 133 (2006).
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