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J-GLOBAL ID：201402263774492545   整理番号：14A0994497

粉末を用いる結晶学

Crystallography with powders

著者 (2件)： CHEETHAM Anthony K. (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR) ,  GOODWIN Andrew L. (Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名： Nature Materials  (Nature Materials)
巻： 13  号： 8  ページ： 760-762  発行年： 2014年08月 
JST資料番号： W1364A  ISSN： 1476-1122  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 1916年のDebyeとScherrerのX線粉末回折によるLiFの構造解析に始まり,さらに1967年のRietveldによる粉末構造決定法の開発などを中心とする,粉末を用いる結晶学を解説した。始めに,もともと粉末中性子回折用に開発されたRietveld法が1977年に初めてX線データに応用され,有機材料へと適用範囲を広げたこと,1980年代初期にシンクロトロンX線源が開発され高角度分解能でのX線回折データの迅速収集が可能になり,また同時に加速器系線源の開発による高分解能粉末中性子回折データなどの,X線及び飛行時間中性子データを略述した。ついで粉末による構造決定(α-CrPO₄の未知構造のPatterson法による解析など),その場測定(反応条件下の材料の構造的挙動の高エネルギーX線束による研究など),及び全散乱法を説明した後,最後に粉末回折の今後を展望した。

シソーラス用語： *回折結晶学 ,  結晶構造解析 ,  Rietveld法 ,  *中性子回折 ,  中性子源 ,  *飛行時間法 ,  シンクロトロン放射 ,  線源 ,  加速器 ,  有機材料 ,  分解能 ,  データ収集 ,  Patterson関数 ,  フッ化リチウム ,  リン酸塩 ,  クロム化合物 ,  *X線回折 ,  技術展望
準シソーラス用語： Debye-Scherrer法 ,  Patterson法 ,  角度分解能 ,  *粉末回折法

分類 (3件)： 構造決定法・回折結晶学一般  (BK01010X) ,  X線回折法  (BK01020I) ,  中性子回折法  (BK01060A)

タイトルに関連する用語 (2件)： 粉末 ,  結晶学