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J-GLOBAL ID：201402268396637965   整理番号：14A0109959

軟磁性薄膜のヒステリシスループ測定システムの設計

The Design of Soft Magnetic Thin Film Hysteresis Loop Measurement System

著者 (3件)： Liu Shibin (Coll. of Electronics and Information,Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an) ,  Qiu Songsong (Coll. of Electronics and Information,Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an) ,  Deng Panpan (Coll. of Electronics and Information,Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an)
資料名： Chuangan Jishu Xuebao  (Chuangan Jishu Xuebao)
巻： 26  号： 8  ページ： 1068-1072  発行年： 2013年 
JST資料番号： C2450A  ISSN： 1004-1699  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 薄膜磁心の性質はフラックスゲートセンサの性能に影響を与える主な要因の一つである。従来の方法だけでなく,軟磁性磁気薄膜のヒステリシスループを測定する既存のデバイスの欠点と問題に対して,その論文は,矩形軟磁性磁気薄膜の減磁場を解析した。上記の解析に基づいて,磁気ヒステリシスループに及ぼす,消磁場によって起こる影響を修正する方法を提案した。低コストと軽い誤差を有する軟磁性薄膜の新しい自動測定を,STM32SCMと,LabVIEWソフトウェアと,デジタル積分技術を採用することによって設計した。電気メッキした軟磁性磁気薄膜と,細片の軟磁性合金のサンプルをテストした。そのテスト結果を,振動試料磁力計(VSM)のそれと,更に比較した。それは,2つの保磁力の間の相対誤差が,10%以内にあることを示し,それは,そのシステムの精度と効率を検証した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *曲線 ,  計測システム ,  磁性薄膜 ,  磁気センサ ,  磁気ヒステリシス ,  プログラミング言語 ,  磁力計 ,  ソフトウェア ,  電気めっき ,  磁性合金 ,  誤差 ,  自動計測
準シソーラス用語： LabVIEW ,  *ヒステリシスループ ,  フラックスゲートセンサ ,  振動試料磁力計 ,  測定システム ,  相対誤差 ,  自動測定

分類 (1件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 軟磁性 ,  薄膜 ,  ヒステリシスループ ,  測定システム ,  設計