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J-GLOBAL ID：201402273605786357   整理番号：14A0016702

IFE-PICとMCC法に基づくイオンスラスター加速グリッドアパーチャ壁の浸蝕機構の数値シミュレーション

Numerical Simulation of Erosion Mechanism for Ion Thruster Accelerator Grid Aperture Walls Based on IFE-PIC and MCC Methods

著者 (4件)： Wang Ermeng (Shenzhen Graduate School,Harbin Inst. of Technol., Shenzhen) ,  Chu Yuchuan (Shenzhen Graduate School,Harbin Inst. of Technol., Shenzhen) ,  Cao Yong (Shenzhen Graduate School,Harbin Inst. of Technol., Shenzhen) ,  Li Juan (Lanzhou Inst. of Physics, Lanzhou)
資料名： Gaodianya Jishu  (Gaodianya Jishu)
巻： 39  号： 7  ページ： 1763-1771  発行年： 2013年 
JST資料番号： C2121A  ISSN： 1003-6520  CODEN： GAJIE5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： イオンスラスターの耐用寿命は,宇宙船の耐用寿命に影響を与える,決定的要因であり,それは,主としてイオンスラスターの加速グリッドの浸食によって短くなる。イオンスラスターのアパーチャー壁の浸蝕機構を理解するために,浸漬有限要素セル内粒子(IFE-PIC)とMonte Carlo浸蝕(MCC)法を結合して,イオンスラスターにおける三次元数値シミュレーションコードを開発し,イオン動力学,電荷交換(CEX)衝突,及びグリッド浸蝕をモデル化した。その結果は,加速器グリッドの電圧の変化が,加速グリッド開口の浸蝕深さに及ぼす,限られた影響を有することを示す。しかしながら,スクリーングリッドの電圧の変化は,CEXイオンのエネルギーを変質させ,それは,加速器開口の浸蝕に及ぼす影響を有する。上流,開口領域,及び下流から由来するCEXイオンは,加速器の開口の浸蝕を起こす可能性がある。上層からくるCEXイオンは,他の領域からのそれらが有するよりももっと高いエネルギを有する。従って,加速器グリッド開口壁に関する浸蝕が,加速器グリッドの上流に由来した,それらの電荷交換イオンによって,主として発生することを結論づける。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *シミュレーション ,  *イオンエンジン ,  開口部 ,  格子 ,  マイクロコントローラ ,  結合クラスタ法 ,  浸食 ,  加速 ,  計算機コード ,  動力学 ,  スクリーン ,  耐用年数 ,  電荷交換 ,  カルバミド酸エステル ,  芳香族塩素化合物
準シソーラス用語： *数値シミュレーション ,  イオンスラスタ ,  *アパーチャ ,  グリッド ,  PIC【コントローラ】 ,  CC法 ,  三次元数値シミュレーション ,  シミュレーションコード ,  Monte Carlo ,  イオン動力学 ,  決定的要因 ,  耐用寿命

分類 (2件)： ロケットエンジン  (PB02050J) ,  計算機シミュレーション  (JE11000H)

物質索引 (1件)： MCC

タイトルに関連する用語 (8件)： PIC ,  MCC ,  イオンスラスター ,  加速 ,  グリッド ,  アパーチャ ,  浸蝕 ,  数値シミュレーション