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J-GLOBAL ID：201402274362259350   整理番号：14A0403460

非同期式QDI回路における任意の故障に対する検出手法

A DFT Method to Achieve 100% Fault Coverage for QDI Asynchronous Circuit

著者 (3件)： 水谷早苗 (奈良工高専) ,  岩田大志 (奈良工高専) ,  山口賢一 (奈良工高専)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 113  号： 430(DC2013 79-91)  ページ： 13-18  発行年： 2014年02月03日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： VLSIの製造プロセスの微細化に伴い,非同期式回路が注目されている。非同期式回路の実現方法として,同期式回路から非同期式回路へ変換する手法が提案されている。本稿では,この同期-非同期変換によって実現された非同期式QDI(Quasi Delay Insensitive)回路に対するDFT手法およびテスト手法を提案する。既存手法のテストは,変換によって非冗長となる故障が検出できないという問題がある。提案手法では,縮退故障を故障の箇所に応じて5つに分類し,それぞれのタイプに対してDFTを行うことで100%の故障検出率を保証する。評価実験では,ベンチマーク回路に対して提案手法を適用し100%を達成することを確認した。また,DFTによる面積の増加率も検証した。(著者抄録)

シソーラス用語： 回路設計 ,  *試験 ,  非同期回路 ,  同期回路 ,  回路変換 ,  遅れ ,  故障検出 ,  縮退故障 ,  検出効率 ,  回路 ,  面積 ,  *超LSI ,  比率 ,  精密化
準シソーラス用語： *LSI試験 ,  QDI回路 ,  チップ面積 ,  テスト容易化設計 ,  検出率 ,  配線遅延 ,  微細化

分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 同期式 ,  故障 ,  手法