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J-GLOBAL ID：201402279887019009   整理番号：14A0087927

EUV自由電子レーザ強度を高くしたときネオンクラスタの光イオン化過程のクロスオーバー

Crossover in the photoionization processes of neon clusters with increasing EUV free-electron-laser intensity

著者 (32件)： YASE S. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  YASE S. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  NAGAYA K. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  NAGAYA K. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  MOZIGUCHI Y. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MOZIGUCHI Y. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  YAO M. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  YAO M. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  FUKUZAWA H. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  FUKUZAWA H. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MOTOMURA K. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  MOTOMURA K. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  YAMADA A. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  YAMADA A. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MA Ri (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  MA Ri (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MA Ri (Jilin Univ., Changchun, CHN) ,  UEDA K. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  UEDA K. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SAITO N. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  SAITO N. (AIST, Tsukuba, JPN) ,  NAGASONO M. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  TOGASHI T. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  TOGASHI T. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  TONO K. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  TONO K. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  YABASHI M. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  ISHIKAWA T. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  OHASHI H. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  OHASHI H. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  SENBA Y. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  SENBA Y. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN)
資料名： Physical Review. A. Atomic, Molecular, and Optical Physics  (Physical Review. A. Atomic, Molecular, and Optical Physics)
巻： 88  号： 4,Pt.A  ページ： 043203.1-043203.5  発行年： 2013年10月 
JST資料番号： D0323D  ISSN： 1050-2947  CODEN： PLRAAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： EUV ,  自由電子 ,  レーザ強度 ,  ネオン ,  クラスタ ,  光イオン化 ,  過程 ,  クロスオーバー