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J-GLOBAL ID:201402280390554340   整理番号:14A0177647

Ge(001)上の燐分子: 高密度でのゲルマニウムの制御したnドーピングの遊び場

Phosphorus Molecules on Ge(001): A Playground for Controlled n-Doping of Germanium at High Densities
著者 (5件):
資料名:
巻:号: 12  ページ: 11310-11316  発行年: 2013年12月 
JST資料番号: W2326A  ISSN: 1936-0851  CODEN: ANCAC3  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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熱蒸着の際にGaP固体源から得た燐分子(P2)からのGeのドーピング過程を,走査型トンネル顕微鏡(STM)法と磁気輸送により調べた。燐分子はN型Geドーパントの代替である。応用の観点から,毒性の高いホスフィンガスに比べて,GaP固体源は特異な取扱手順が不要であり非常に便利である。また,これ迄の研究から,二次元ドープ層の電気特性を有するSiのδドーピング用のP2の実行可能性が実証されている。密度に依存するドーピング過程を原子レベルで分解し,高いP被覆率でのドーパント不活性化の起源を明らかにした。
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分類 (1件):
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半導体の格子欠陥 

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