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J-GLOBAL ID：201402280486797163   整理番号：13A1964893

熱サイクルにおけるGe-Te系カルコゲナイド半導体の相分離

Phase separation in chalcogenide semiconductors of the Ge-Te system upon thermal cycling

著者 (3件)： KOZYUKHIN S. A. (Russian Acad. of Sciences, Kurnakov Inst. of General and Inorganic Chemistry, Leninskii pr., 31, 119991, Moscow, RUS) ,  SHERCHENKOV A. A. (National Res. Univ. “MIET”, 124498, Zelenograd, Moscow, RUS) ,  BABICH A. V. (National Res. Univ. “MIET”, 124498, Zelenograd, Moscow, RUS)
資料名： Semiconductors  (Semiconductors)
巻： 47  号： 13  ページ： 1680-1683  発行年： 2013年12月 
JST資料番号： T0093A  ISSN： 1063-7826  CODEN： SMICES  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Ge-Te系融点に近い状態の組成を分析し,示差走査熱量測定とX線回折により,繰り返し熱処理によるそれらの挙動を研究する。組成に及ぼす繰り返し熱処理は,材料の相分離をもたらすことが分かる。熱処理を行った材料で発生するプロセスの性質についての仮定を行う。Copyright 2013 Pleiades Publishing, Ltd. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 化合物半導体 ,  *ゲルマニウム化合物 ,  *テルル化物 ,  *相分離 ,  熱サイクル ,  融点 ,  X線回折 ,  熱処理 ,  示差走査熱量測定 ,  化学組成
準シソーラス用語： *テルル化ゲルマニウム ,  組成分析

分類 (2件)： 固相転移  (BL04020G) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： 熱サイクル ,  Ge ,  Te ,  カルコゲナイド ,  相分離