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J-GLOBAL ID：201402281058468712   整理番号：14A0069570

ディペンダブルVLSIシステム 第8章 8.2 セキュリティLSIに対するタンパリングの手法

著者 (5件)： 堀洋平 (産業技術総合研) ,  鈴木大輔 (三菱電機) ,  吉村正義 (九大) ,  吉川雅弥 (名城大) ,  藤野毅 (立命館大)
資料名： 日本信頼性学会誌  (REAJ誌)
巻： 35  号： 8  ページ： 492  発行年： 2013年12月01日 
JST資料番号： L2778A  ISSN： 0919-2697  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： セキュリティLSIの内部情報を漏洩させる不正な攻撃(タンパリング)の手法としてサイドチャネル攻撃,フォールト攻撃,スキャンベース攻撃および侵襲攻撃の概要を解説した。サイドチャネル攻撃は暗号モジュールが動作する際のタイミング情報,消費電力,漏洩電磁波等を解析する方法で単純電力分析,差分電力解析やテンプレート攻撃等があることを示した。フォールト攻撃は暗号回路に対し異常電圧の印加やレーザー照射等を行って内部演算の誤りパターンから状態を推測すると述べた。スキャンベース攻撃はLSIの製造後検査用テスト回路と接続用スキャンチェインを悪用して内部状態を観測窃取すると述べた。侵襲攻撃はメモリや信号線を直接的に観察窃取する方法でコストが高いと述べた。

シソーラス用語： *超LSI ,  信頼性 ,  *コンピュータセキュリティ ,  *安全性 ,  *暗号装置 ,  攻撃行動 ,  暗号 ,  消費電力 ,  漏れ波 ,  解析 ,  *電力変動 ,  *セキュリティシステム ,  サイバー攻撃
準シソーラス用語： サイドチャネル攻撃 ,  差分電力解析 ,  耐タンパ性 ,  電力解析攻撃

分類 (2件)： データ保護  (JD01020V) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (5件)： VLSI ,  セキュリティ ,  LSI ,  タンパ ,  手法