文献

J-GLOBAL ID：201402290495789659   整理番号：14A0756383

赤外p-MAIRSによるNafion-白金界面構造の評価

著者 (3件)： 小野祐太朗 (北陸先端科学技術大学院大) ,  大山隆宏 (北陸先端科学技術大学院大) ,  長尾祐樹 (北陸先端科学技術大学院大)
資料名： 日本化学会講演予稿集  (日本化学会春季年会講演予稿集)
巻： 94th  号： 3  ページ： 697  発行年： 2014年03月12日 
JST資料番号： S0493A  ISSN： 0285-7626  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究では,スパッタ法によりPt薄膜を赤外を透過するMgO基板上に成膜しNafionをスピンコート法により成膜した。Pt界面のNafionの配向構造を調べるために,赤外分光の1種である多角入射分解分光法(p-MAIRS)により評価を行った。その結果,Pt界面のNafionは配向構造を有していることがわかり,膜厚によってその配向構造が異なることがわかった。(著者抄録)

シソーラス用語： *フッ素樹脂 ,  *陽イオン交換樹脂 ,  *表面構造 ,  金属薄膜 ,  配向 ,  赤外分光法 ,  依存性 ,  プロトン移動 ,  分子構造 ,  白金 ,  基
準シソーラス用語： *Nafion ,  スルホン酸基 ,  プロトン輸送 ,  ミクロ相分離構造 ,  *界面構造 ,  表面配向 ,  膜厚依存性

分類 (2件)： 高分子固体のその他の性質  (CG02025L) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (5件)： 赤外 ,  Nafion ,  白金 ,  界面構造 ,  評価