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J-GLOBAL ID：201402293791311933   整理番号：14A0141412

単色エネルギーGeVエネルギーハドロンビームを用いたSEE測定とシミュレーション

SEE Measurements and Simulations Using Mono-Energetic GeV-Energy Hadron Beams

著者 (12件)： GARCIA ALIA Ruben (CERN, Geneve, CHE) ,  GARCIA ALIA Ruben (Univ. Montpellier II, Montpellier, FRA) ,  BRUGGER Markus (CERN, Geneve, CHE) ,  DANZECA Salvatore (CERN, Geneve, CHE) ,  DANZECA Salvatore (Univ. Montpellier II, Montpellier, FRA) ,  FERLET-CAVROIS Veronique (European Space Agency, Noordwijk, NLD) ,  POIVEY Christian (European Space Agency, Noordwijk, NLD) ,  ROED Ketil (Univ. Oslo, Oslo, NOR) ,  SAIGNE Frederic (Univ. Montpellier II, Montpellier, FRA) ,  SPIEZIA Giovanni (CERN, Geneve, CHE) ,  UZNANSKI Slawosz (CERN, Geneve, CHE) ,  WROBEL Frederic (Univ. Montpellier II, Montpellier, FRA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 60  号： 6,Pt.1  ページ： 4142-4149  発行年： 2013年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シングルイベント効果(SEE)断面積は数百MeV以上で飽和するとしばしば仮定されている。本研究では,400GeV陽子ビームと120GeVのπ中間子+陽子混合ビームを用いて,4MビットAT60142F-0.25μmSRAMに基づく欧州宇宙機関(ESA)シングルイベントアップセット(SEU)モニタのSEUを測定した。SEU断面積は230MeVから400GeVの範囲で約2~3倍に増加した。モンテカルロシミュレーションでは,この増加は230MeV~3GeV領域で主に生じる。

シソーラス用語： ソフトエラー ,  *SEU【シングルイベント】 ,  断面積 ,  *照射損傷 ,  シミュレーション ,  欧州宇宙機関 ,  *荷電粒子 ,  π中間子 ,  陽子ビーム ,  プログラムパッケージ ,  核分裂 ,  中間子ビーム
準シソーラス用語： FLUKA ,  シングルイベント効果 ,  モンテカルロシミュレーション ,  *高エネルギー粒子 ,  SEE【事象】

分類 (2件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 単色 ,  エネルギー ,  ハドロンビーム ,  SEE ,  シミュレーション