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J-GLOBAL ID：201402293838663493   整理番号：14A0131658

パルスサーモグラフィにおける欠陥深さの定量化に及ぼす欠陥サイズの影響

Effect of defect size on defect depth quantification in pulsed thermography

著者 (3件)： SHARATH D (Indira Gandhi Centre for Atomic Res., Tamil Nadu, IND) ,  MENAKA M (Indira Gandhi Centre for Atomic Res., Tamil Nadu, IND) ,  VENKATRAMAN B (Indira Gandhi Centre for Atomic Res., Tamil Nadu, IND)
資料名： Measurement Science and Technology  (Measurement Science and Technology)
巻： 24  号： 12  ページ： 125205,1-7  発行年： 2013年12月 
JST資料番号： C0354C  ISSN： 0957-0233  CODEN： MSTCEP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 構造材料中の欠陥の検出とその深さの測定は,重要な検査項目である。欠陥深さの非破壊測定に用いられているパルスサーモグラフィでは,高エネルギの光パルスがサンプル表面に当てられ,欠陥や不連続部分による熱拡散の変化に起因する表面温度分布の変化が測定される。このとき種々の因子が温度測定結果に影響を及ぼし,欠陥サイズもそのような因子の一つである。本研究では,AISI316Lステンレスのパルスサーモグラフィにおける欠陥サイズの影響について,欠陥近傍の熱拡散機構と関連付けて解析した。一次元の解析モデルによって熱拡散機構を理解するために,実験結果との比較を行った。そして欠陥サイズの影響を,熱拡散機構に基づいて説明した。

シソーラス用語： *サーモグラフィー ,  *深さ ,  *欠陥 ,  *計測 ,  *構造材料 ,  表面温度 ,  光パルス ,  温度分布 ,  熱拡散 ,  オーステナイト系ステンレス鋼 ,  *解析モデル ,  長さ
準シソーラス用語： パルスサーモグラフィ ,  欠陥深さ ,  AISI316L

分類 (1件)： 格子欠陥の観察・実験技術  (BK12020U)

タイトルに関連する用語 (5件)： パルス ,  サーモグラフィ ,  欠陥 ,  定量化 ,  サイズ