ERKMEN Baris I. について
California Inst. Technol., CA, USA について
STREKALOV Dmitry V. について
California Inst. Technol., CA, USA について
California Inst. Technol., CA, USA について
Proceedings of SPIE について
干渉測定 について
共分散 について
Fourier変換 について
SN比 について
光検出器 について
画像処理 について
認識 について
遠隔測定 について
天体観測 について
イメージング について
干渉法 について
識別 について
干渉測定と干渉計 について
物体 について
識別 について
イメージング について
干渉法 について