特許
J-GLOBAL ID：201403002934155619

測定装置および測定方法、ならびにプログラム

発明者：
斎藤 竜太

斎藤 竜太 について


出願人/特許権者：
日置電機株式会社

日置電機株式会社 について


代理人 (1件)： アイアット国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-268206
公開番号（公開出願番号）：特開2014-115141
出願日： 2012年12月07日
公開日（公表日）： 2014年06月26日
要約：
【課題】測定結果が確かであると推測される桁数を判断することにより、測定状態に応じて分解能を可変とする測定装置を提供する。【解決手段】ステップS1において、ユーザから測定開始が指令されたと判断された場合、ステップS2において、被測定接地体Eの接地抵抗Reの抵抗値が算出される。ステップS3において、接地抵抗Reの抵抗値の算出値が、所定の数nだけ蓄積されたと判断された場合、ステップS4において、蓄積された接地抵抗Reの抵抗値の算出値において値が一致する桁数が判断され、ステップS5において、接地抵抗Reの抵抗値の算出値において値が一致する桁数の接地抵抗Reの値が表示される。ステップS6において、ユーザから測定終了が指令されていないと判断された場合、処理は、ステップS2にもどり、それ以降の処理が繰り返される。ステップS6において、ユーザから測定終了が指令されたと判断された場合、処理が終了される。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
物理量を測定する測定装置において、 前記物理量を測定する測定手段と、 前記物理量測定手段により測定された複数回分の前記物理量の測定値に基づいて、前記物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数を判断する判断手段と、 前記判断手段による判断結果に基づいて、前記物理量の測定値のうち、測定値が確かであると推定される桁数の前記物理量の測定値の表示を制御する表示制御手段と を備えることを特徴とする測定装置。
IPC (3件)：
G01D 21/00 ,  G01R 27/20 ,  G01R 31/00
FI (3件)：
G01D21/00 M ,  G01R27/20 ,  G01R31/00
Fターム (25件)：
2F076BA01 ,  2F076BD02 ,  2F076BD04 ,  2F076BE01 ,  2F076BE02 ,  2F076BE04 ,  2F076BE06 ,  2F076BE08 ,  2F076BE09 ,  2F076BE10 ,  2F076BE12 ,  2G028AA01 ,  2G028AA05 ,  2G028BE08 ,  2G028CG05 ,  2G028DH05 ,  2G028DH11 ,  2G028FK02 ,  2G028GL11 ,  2G028LR02 ,  2G028MS01 ,  2G036AA03 ,  2G036BB04 ,  2G036BB22 ,  2G036CA12
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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