特許
J-GLOBAL ID：201403004177226174
周波数測定装置、及び周波数測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人樹之下知的財産事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-064812
公開番号（公開出願番号）：特開2014-190759
出願日： 2013年03月26日
公開日（公表日）： 2014年10月06日
要約：
【課題】簡素な構成で光コムのモード次数を特定し、測定対象のレーザの絶対周波数を測定する周波数計測装置、及び周波数計測方法を提供する。【解決手段】周波数測定装置1は、光周波数コム装置2と、周波数可変で周波数に応じて発振モードが変化するモード移行周波数を有する周波数可変レーザ装置3と、周波数可変レーザの発振モードを観測する発振モード観察部6と、光周波数コムと周波数可変レーザとを干渉させた際の第一ビート周波数、及び測定対象レーザと周波数可変レーザとを干渉させた際の第二ビート周波数を計測するビート周波数測定部7とを備え、周波数可変レーザの周波数を変化させた際の発振モードの観測結果に基づいて、第一ビート周波数を計測する際の光周波数コムのモード次数を特定し、モード次数と、第一ビート周波数及び第二ビート周波数とに基づいて、測定対象レーザ装置の発振周波数を測定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光周波数コム装置と、
周波数可変で、かつ、当該周波数に応じて発振モードが高次から低次に、あるいは低次から高次に変化するモード移行周波数を有する周波数可変レーザ装置と、
前記発振モードを観測する手段と、
前記光周波数コム装置と前記周波数可変レーザ装置とからの出力光を干渉させた際に得られる第一ビート周波数を計測する手段と、
測定対象レーザ装置と前記周波数可変レーザ装置とからの出力光を干渉させた際に得られる第二ビート周波数を計測する手段と、を備え、
前記周波数可変レーザ装置の発振周波数を変化させた際の前記発振モードの観測結果に基づいて、前記第一ビート周波数を計測する際の前記光周波数コム装置からの出力光のモード次数を特定し、前記モード次数と、計測された前記第一ビート周波数及び前記第二ビート周波数とに基づいて、前記測定対象レーザ装置の発振周波数を測定する
ことを特徴とする周波数測定装置。
IPC (3件)：
G01R 23/14
, G01J 9/02
, H01S 3/00
G01R23/14 E
, G01J9/02
, H01S3/00 F
, H01S3/00 G
5F172AD01
, 5F172NN24
, 5F172NN25
, 5F172NP04
, 5F172NP18
, 5F172ZZ04
