特許

J-GLOBAL ID：201403004931617436

ひずみ計

発明者： 村越 潤 ,  田中 良樹 ,  末吉 良敏 ,  浅田 知之
出願人/特許権者： 独立行政法人土木研究所 ,  株式会社東京測器研究所
代理人 (1件)： 特許業務法人創成国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-020438
公開番号（公開出願番号）：特開2014-153081
出願日： 2013年02月05日
公開日（公表日）： 2014年08月25日
要約：

【課題】磁性材料を含む物体のひずみ又は応力を測定するためのひずみ計を容易に物体の測定箇所に設置すると共に、測定コストの低コスト化を実現できるひずみ計を提供する。【解決手段】第1磁石4が搭載された第1部材2と、第2磁石5が搭載された第2部材3と、第1部材2及び第2部材3がそれぞれ第1磁石4、第2磁石5の磁力により物体Wの測定箇所に固定された状態で、第1磁石4及び第2磁石5によりそれぞれ生成される磁場が作用するように第1部材2(又は第2部材3)に搭載された磁場検知素子7とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

磁性材料を含む物体に生じるひずみ又は応力を測定するためのひずみ計であって、 第1磁石が搭載されており、前記物体の測定箇所で、該物体と前記第1磁石との間に作用する磁力によって該物体に固定される第1部材と、 第2磁石が搭載されており、前記物体の測定箇所に前記第1部材に並列して配置されると共に該物体と前記第2磁石との間に作用する磁力によって該物体に固定される第2部材と、 前記第1部材及び第2部材が前記物体の測定箇所に固定された状態で、前記第1磁石及び第2磁石によりそれぞれ生成される磁場が作用するように前記第1部材及び第2部材のいずれか一方に搭載されており、前記物体に固定された前記第1部材と第2部材との間の相対的変位に伴う前記磁場の変化に応じた出力を発生する磁場検知素子とを備えることを特徴とするひずみ計。

IPC (2件)：

G01B 7/00 ,  G01B 7/24

FI (2件)：

G01B7/00 101H ,  G01B7/24

Fターム (9件)：

2F063AA02 ,  2F063AA25 ,  2F063BA14 ,  2F063BB03 ,  2F063BC05 ,  2F063CA40 ,  2F063DA02 ,  2F063GA52 ,  2F063ZA01