特許
J-GLOBAL ID：201403006698650951
シーン内の奥行き値を測定する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
曾我 道治
, 梶並 順
, 大宅 一宏
, 上田 俊一
, 吉田 潤一郎
, 飯野 智史
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-529479
特許番号：特許第5627791号
出願日： 2012年03月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 シーン内の奥行き値を測定する方法であって、
パターンの複数のセットを前記シーンに投影するステップであって、各セットは異なる関数及び異なる空間周波数を用いて符号化され、前記シーンは大域照明の影響を受ける、投影するステップと、
前記シーンの画像の複数のセットを取得するステップであって、各セット内のパターンごとに1つの画像が存在する、取得するステップと、
前記画像のセット内の各パターンにおける対応するロケーションの前記奥行き値をピクセルごとに求めるステップと、
前記ピクセルごとに、前記対応するロケーションの前記奥行き値を解析するステップと、
前記対応するロケーションの前記奥行き値を他の任意のパターンとの間で比較し、それらの奥行き値の差が閾値未満の場合、該奥行き値を返し、そうでない場合、該奥行き値を誤差としてマーキングするステップと、
を含み、前記ステップはプロセッサが実行する、シーン内の奥行き値を測定する方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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