特許

J-GLOBAL ID：201403007270398227

Eペトリ皿、Eペトリ装置及びEペトリシステム

発明者： ツェン グォアン ,  サミュエル ヤン ,  イ スン ア ,  パン シュオ ,  ヤン チャングェイ
出願人/特許権者： カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー
代理人 (3件)： 杉村 憲司 ,  川原 敬祐 ,  福井 敏夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-556657
公開番号（公開出願番号）：特表2014-511183
出願日： 2012年03月02日
公開日（公表日）： 2014年05月15日
要約：

本発明は、試料面を有する透過層と、試料面に置かれた試料の、サブピクセルシフトされた投影画像列をサンプリングするように構成された光検出器とを有するEペトリ皿を提供する。サブピクセルシフトされた投影画像は、照射源が発する複数の照射角度からの光に関連するものである。

請求項（抜粋）：

Eペトリ皿であって、 試料面を有する透過層と、 前記試料面に置かれた試料の、サブピクセルシフトされた投影画像列をサンプリングするように構成された光検出器であり、前記サブピクセルシフトされた投影画像は、照射源により様々な照射角度から発せられる光に関連する光検出器と を有するEペトリ皿。

IPC (1件)：

C12M 1/34

FI (1件)：

C12M1/34 B

Fターム (7件)：

4B029AA07 ,  4B029BB01 ,  4B029CC02 ,  4B029CC08 ,  4B029FA03 ,  4B029FA04 ,  4B029FA15

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 観察装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-181220   出願人：株式会社ニコン
• 走査型投影レンズレス顕微鏡システム
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2013-536747   出願人：カリフォルニアインスティチュートオブテクノロジー
• 光ガイドピクセル
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2013-556906   出願人：カリフォルニアインスティチュートオブテクノロジー

審査官引用 (3件)

• 観察装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-181220   出願人：株式会社ニコン
• 走査型投影レンズレス顕微鏡システム
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2013-536747   出願人：カリフォルニアインスティチュートオブテクノロジー
• 光ガイドピクセル
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2013-556906   出願人：カリフォルニアインスティチュートオブテクノロジー

引用文献：

出願人引用 (2件)

• Lensfree on-chip microscopy over a wide field-of-view using pixel super-resolution.
• Multi-angle lensless digital holography for depth resolved imaging on a chip.

審査官引用 (2件)

• Lensfree on-chip microscopy over a wide field-of-view using pixel super-resolution.
• Multi-angle lensless digital holography for depth resolved imaging on a chip.