特許

J-GLOBAL ID：201403008232910697

電圧変動検出回路及び半導体集積回路

発明者： 田辺 聡 ,  川▲崎▼ 健一
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 服部 毅巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-259127
公開番号（公開出願番号）：特開2014-106112
出願日： 2012年11月27日
公開日（公表日）： 2014年06月09日
要約：

【課題】電圧変動検出時の電圧の変動を検出する感度を上げることができる。【解決手段】動作電圧生成部12は検出対象の電圧(図1の例では配線vdd(電源配線)と配線vss(接地線)との間の電位差(電源電圧))を下げて、発振回路11の動作電圧を生成する。発振回路11は、その動作電圧を受けて発振動作を行う。変動検出部13は、発振回路11の発振周波数を測定することで検出対象の電圧の変動を検出する。これにより、発振回路11の発振周波数変動率が大きくなり、電圧変動検出時の電圧の変動を検出する感度を上げることができる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

動作電圧を受けて発振動作を行う発振回路と、 検出対象の電圧を下げて前記動作電圧を生成する動作電圧生成部と、 前記発振回路の発振周波数を測定することで前記電圧の変動を検出する変動検出部と、 を有することを特徴とする電圧変動検出回路。

IPC (4件)：

G01R 31/28 ,  G01R 19/00 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04

FI (4件)：

G01R31/28 V ,  G01R19/00 B ,  H01L27/04 F ,  H01L27/04 B

Fターム (33件)：

2G035AB02 ,  2G035AC01 ,  2G035AD03 ,  2G035AD13 ,  2G035AD23 ,  2G035AD25 ,  2G035AD26 ,  2G035AD27 ,  2G035AD29 ,  2G035AD51 ,  2G035AD56 ,  2G132AA00 ,  2G132AD01 ,  2G132AD04 ,  2G132AD08 ,  2G132AK07 ,  2G132AL11 ,  5F038AZ07 ,  5F038BB04 ,  5F038BB05 ,  5F038BB08 ,  5F038BG02 ,  5F038BG06 ,  5F038BH19 ,  5F038CD02 ,  5F038CD06 ,  5F038CD09 ,  5F038CD14 ,  5F038DF05 ,  5F038DF08 ,  5F038DT12 ,  5F038EZ10 ,  5F038EZ20