特許
J-GLOBAL ID:201403010671164378
砥粒の検査装置
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-018939
公開番号(公開出願番号):特開2014-137367
出願日: 2013年01月15日
公開日(公表日): 2014年07月28日
要約:
【課題】固定砥粒工具等に固着されるダイヤモンド微細砥粒群やCBN微細砥粒群の微細砥粒の形状や欠損の大きさなどを定量的に計測することで、母集団砥粒群の砥粒性能を検査できるようにする。【解決手段】検査対象母集団砥粒群からサンプリングした微細砥粒群1を、可視光線透過率が良好な素材で構成されている平坦部を有する容器に入れ、圧縮空気6-a等により微細砥粒のかくはんを行う。その後、容器平坦部の外側に設置しているカメラ2により砥粒面の画像を取得する。同軸落射光を使用することにより、砥粒面からの正反射光だけが画像内で際立った領域として得られる。得られた画像の画像処理により、面積、円形度、欠損部面積等について定量的砥粒特性データとして記憶装置内に格納する。その後かくはんと解析を繰り返すことにより、複数回の定量的砥粒特性データを自動計測する。それらのデータから砥粒群の母集団砥粒群の推定砥粒特性分布を求める。【選択図】図1
請求項(抜粋):
工具に固着させる前のダイヤモンド微細砥粒群またはCBN微細砥粒群の砥粒特性を検査するための装置において、可視光線透過率が良好な素材で構成されている平坦部を有した容器と、容器内に入れた砥粒群をかくはんさせるためのかくはん機構を有し、容器平坦部の外側に、拡大レンズと画像取得領域に対する同軸落射光照明を具備した撮像装置を配置して、当該撮像装置で画像取得領域内の容器平坦面に接触している複数個の微細砥粒面の画像を取得し、当該画像の画像処理解析を行う画像処理部を有し、当該画像処理部で微細砥粒面の面積、凹部面積、円形度、欠損面積などを定量的砥粒特性データとし、その定量的砥粒特性データを記憶装置部に格納し、1画像処理解析終了ごとに容器内の微細砥粒群を撹拌して画像処理解析を繰り返す機能を有することを特徴とする砥粒の検査装置。
IPC (5件):
G01B 11/28
, C09K 3/14
, G01B 11/30
, G01N 15/02
, G01N 21/88
FI (5件):
G01B11/28 H
, C09K3/14 550F
, G01B11/30 A
, G01N15/02 C
, G01N21/88 Z
Fターム (27件):
2F065AA47
, 2F065AA58
, 2F065AA61
, 2F065BB26
, 2F065DD04
, 2F065DD09
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ19
, 2F065JJ26
, 2F065QQ05
, 2F065QQ42
, 2F065QQ43
, 2F065RR06
, 2F065SS03
, 2F065TT07
, 2G051AA01
, 2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051AB20
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051DA20
, 2G051EC02
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