特許
J-GLOBAL ID：201403012960161541

計測装置

発明者：
大西 康裕

大西 康裕 について

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来海 雅俊

来海 雅俊 について

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諏訪 正樹

諏訪 正樹 について

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シュリー ナイヤー

シュリー ナイヤー について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (3件)： 世良 和信 ,  和久田 純一 ,  中村 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-233249
公開番号（公開出願番号）：特開2014-055971
出願日： 2013年11月11日
公開日（公表日）： 2014年03月27日
要約：
【課題】対象の反射特性によらず、法線情報を算出可能な技術を提供する【解決手段】計測点を通る平面上で、計測点から見てある角度θにある複数の発光領域を持ち、各領域においてθ方向の広がりが等しく、鏡面ローブの影響を無視できるように発光分布が奇関数であり、かつ発光領域どうしの対応点の比がそれぞれ異なるように設定する。【選択図】図24
請求項（抜粋）：
所定の計測点に配置された計測対象物表面を計測する計測装置であって、 第1光源分布をもつ光と第2光源分布をもつ光を前記計測対象物表面に照射する照明装置と、 前記照明装置で光を照射された前記計測対象物表面を撮像する撮像部と、 前記撮像部で撮像された画像を用いて、前記計測対象物表面の前記計測点における光反射角度に関する情報を求める計測処理部と、を有し、 前記計測点を通る第1平面での断面において、前記照明装置は、各々が複数の発光要素を含む複数の第1特定領域を有しており、 前記複数の第1特定領域は、前記第1平面上で、前記計測点を中心とする単位半径の円上に投影したときの弧の長さが互いに等しく、 前記弧の中心に投影される第1特定領域上の点を当該第1特定領域の発光中心と定義したときに、前記複数の第1特定領域の発光中心の位置は互いに異なっており、 前記第1平面上で、前記計測点から見て角度θにある発光要素から前記計測点へ向かう方向の前記第1光源分布及び第2光源分布での放射輝度をそれぞれL11(θ)、L12(θ)と表記する場合に、 前記第1光源分布及び第2光源分布は、 (a)第1特定領域が前記第1平面上で発光中心の角度θCを中心として±σの広がりをもつときに、いずれの第1特定領域においても、放射輝度L11(θ)、L12(θ)が0ではなく、0 IPC (1件)：
G01B 11/245
FI (1件)：
G01B11/245 H
Fターム (33件)：
2F065AA35 ,  2F065AA53 ,  2F065BB07 ,  2F065BB25 ,  2F065BB26 ,  2F065CC26 ,  2F065EE00 ,  2F065FF05 ,  2F065FF43 ,  2F065FF44 ,  2F065GG07 ,  2F065GG23 ,  2F065GG24 ,  2F065GG25 ,  2F065HH02 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL22 ,  2F065LL49 ,  2F065NN01 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ36
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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