特許
J-GLOBAL ID:201403013213140280

誘導ラマン散乱検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 藤元 亮輔 ,  水本 敦也 ,  平山 倫也
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-540135
公開番号(公開出願番号):特表2014-507627
出願日: 2012年03月02日
公開日(公表日): 2014年03月27日
要約:
【課題】誘導ラマン散乱検出装置においてS/N比を向上させる。【解決手段】誘導ラマン散乱検出装置は、それぞれ第1および第2の光パルスを第1および第2のパルス周期で生成する第1および第2の光パルス生成手段と、第1および第2の光パルスを合成して試料に照射する光学系と、合成された第1および第2の光パルスが試料に照射されることで生じた誘導ラマン散乱により強度変調された第2の光パルスを検出する検出手段とを有する。第2の光パルス生成手段は、第2のパルス周期で射出されたソース光パルスのそれぞれを2つの光パルスに分割し、該2つの光パルスのうち一方の光パルスを他方の光パルスに対して遅延させ、1つのソース光パルスから分割されて遅延された一方の光パルスを、そのソース光パルスよりも後に射出された別のソース光パルスにおける上記他方の光パルスと合成して第2の光パルスを生成する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1の光パルスを第1のパルス周期で生成する第1の光パルス生成手段と、 前記第1の光パルスとは異なる光周波数を有する第2の光パルスを、前記第1のパルス周期よりも短い第2のパルス周期で生成する第2の光パルス生成手段と、 前記第1および第2の光パルスを合成して試料に照射する光学系と、 合成された前記第1および第2の光パルスの双方が前記試料に照射されることで生じた誘導ラマン散乱により強度変調された前記第2の光パルスを検出する検出手段とを有し、 前記第2の光パルス生成手段は、 光源から前記第2のパルス周期で射出されるソース光パルスのそれぞれを2つの光パルスに分割する分割手段と、 前記2つの光パルスのうち一方の光パルスを他方の光パルスに対して遅延させる遅延手段と、 1つの前記ソース光パルスから分割されて前記遅延手段により遅延された前記一方の光パルスを、そのソース光パルスよりも後に前記光源から射出された別の前記ソース光パルスにおける前記他方の光パルスと合成して前記第2の光パルスを生成する合成手段とを有することを特徴とする誘導ラマン散乱検出装置。
IPC (1件):
G01N 21/65
FI (1件):
G01N21/65
Fターム (10件):
2G043AA03 ,  2G043EA03 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 顕微鏡装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2006-103406   出願人:株式会社東芝, 国立大学法人東京農工大学

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