特許
J-GLOBAL ID：201403018325334780

計測装置、方法及びプログラム

発明者：
伊藤 勇太

伊藤 勇太 について

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関 晃仁

関 晃仁 について

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下山 賢一

下山 賢一 について

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伊藤 聡

伊藤 聡 について

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山崎 雅起

山崎 雅起 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (2件)： 酒井 宏明 ,  宮田 英毅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-250460
公開番号（公開出願番号）：特開2014-098625
出願日： 2012年11月14日
公開日（公表日）： 2014年05月29日
要約：
【課題】簡易な構成で校正ずれを検知することができる計測装置、方法及びプログラムを提供する。【解決手段】実施形態の計測装置は、計測部と、撮像部と、推定部と、算出部と、検知部と、を備える。計測部は、複数の光線を物体に照射し、光線毎に、物体の被照射点の方向、被照射点までの距離、及び被照射点の反射強度を計測する。撮像部は、物体を撮像し、画像を得る。推定部は、被照射点毎に、被照射点の方向及び距離、並びに校正情報を用いて、被照射点が画像上で投影される推定投影位置を推定する。算出部は、被照射点毎に、反射強度変化量を算出し、算出した反射強度変化量が第1閾値以上となる被照射点である反射強度変化点を求め、推定投影位置毎に、輝度変化量を算出し、算出した輝度変化量が第2閾値以上となる推定投影位置である輝度変化点を求める。検知部は、反射強度変化点と輝度変化点とを比較して、校正ずれを検知する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数の光線を物体に照射し、当該光線毎に、前記物体の被照射点の方向、当該被照射点までの距離、及び当該被照射点の反射強度を計測する計測部と、 前記複数の光線が照射された前記物体を撮像し、画像を得る撮像部と、 前記被照射点毎に、当該被照射点の前記方向及び前記距離、並びに予め行われた前記計測部と前記撮像部との校正に基づく校正情報を用いて、当該被照射点が前記画像上で投影される推定投影位置を推定する推定部と、 前記被照射点毎に、当該被照射点の反射強度と当該被照射点と異なる被照射点の反射強度との変化量を示す反射強度変化量を算出し、算出した前記反射強度変化量が第1閾値以上となる被照射点である反射強度変化点を求めるとともに、前記推定投影位置毎に、当該推定投影位置の輝度と当該推定投影位置と異なる推定投影位置の輝度との変化量を示す輝度変化量を算出し、算出した前記輝度変化量が第2閾値以上となる推定投影位置である輝度変化点を求める算出部と、 前記反射強度変化点と前記輝度変化点とを比較して、前記計測部と前記撮像部との校正ずれを検知する検知部と、 を備える計測装置。
IPC (3件)：
G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G06T 1/00
FI (3件)：
G01B11/00 H ,  G01B11/26 H ,  G06T1/00 315
Fターム (48件)：
2F065AA04 ,  2F065AA37 ,  2F065EE00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065FF61 ,  2F065GG04 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065PP01 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065RR05 ,  2F065RR06 ,  2F065SS09 ,  2F065SS12 ,  2F065SS13 ,  2F065SS15 ,  2F065TT08 ,  5B057BA02 ,  5B057BA17 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CD12 ,  5B057CD14 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5B057DC34 ,  5B057DC36
引用特許：
出願人引用 (3件)

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