特許

J-GLOBAL ID：201403018364339978

保護ガラスの汚れ検出方法及びレーザ加工ヘッド

発明者： 佐藤 和隆 ,  小野 育康 ,  古清水 洋 ,  田川 省吾 ,  加藤 俊英
出願人/特許権者： 株式会社アマダ
代理人 (5件)： 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  高橋 俊一 ,  伊藤 正和 ,  高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-120356
公開番号（公開出願番号）：特開2014-237150
出願日： 2013年06月07日
公開日（公表日）： 2014年12月18日
要約：

【課題】レーザ加工ヘッドに備えた保護ガラスの汚染をより確実に検出することができる保護ガラスの汚れ検出方法及びレーザ加工ヘッドを提供する。【解決手段】レーザ加工ヘッドに備えた保護ガラスの汚れ検出方法であって、前記保護ガラス23の外周面から当該保護ガラス23内へ検出光を入射し、前記保護ガラス23の周面によって反射されて外周面から漏出した検出光の光量を、前記保護ガラス23の周面に備えた光検出手段49によって検出することによって保護ガラス23の汚れを検出する。前記光検出手段49の指向方向と前記検出光の入射方向とのなす角度が45°以下の範囲において前記保護ガラス23に対する検出光の入射を行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

レーザ加工ヘッドに備えた保護ガラスの汚れ検出方法であって、前記保護ガラスの外周面から当該保護ガラス内へ検出光を入射し、前記保護ガラスの周面によって反射されると共に前記保護ガラスに付着した汚染物質によって乱反射されて外周面から漏出した検出光の光量を、前記保護ガラスの周面に備えた光検出手段によって検出することによって保護ガラスの汚れを検出することを特徴とする保護ガラスの汚れ検出方法。

IPC (3件)：

B23K 26/00 ,  B23K 26/064 ,  B23K 26/142

FI (3件)：

B23K26/00 Q ,  B23K26/06 A ,  B23K26/14 A

Fターム (5件)：

4E068CB09 ,  4E068CC01 ,  4E068CD08 ,  4E068CD15 ,  4E068CG01