特許
J-GLOBAL ID:201403018747128490

測定装置、光伝導アンテナおよび光伝導アンテナの製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人深見特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-044027
公開番号(公開出願番号):特開2014-173866
出願日: 2013年03月06日
公開日(公表日): 2014年09月22日
要約:
【課題】より強度の高いテラヘルツ波を発生できる構成、および/または、テラヘルツ波の検出感度を向上できる構成を提供する。【解決手段】テラヘルツ波に向けられた測定装置が提供される。測定装置は、光伝導アンテナと、光伝導アンテナに照射されるパルス光を調整するための調整手段とを含む。光伝導アンテナは、基板と、基板上に形成された対向する一対の電極とを含む。一対の電極は、両者の間隔がより狭いギャップを含むとともに、ギャップの長手方向の長さと間隔とのアスペクト比が10以上となるように構成されている。調整手段は、パルス光のスポット形状をギャップの領域に適合化する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
テラヘルツ波に向けられた測定装置であって、 光伝導アンテナと、 前記光伝導アンテナに照射されるパルス光を調整するための調整手段とを備え、 前記光伝導アンテナは、 基板と、 前記基板上に形成された対向する一対の電極とを含み、 前記一対の電極は、両者の間隔がより狭いギャップを含むとともに、前記ギャップの長手方向の長さと間隔とのアスペクト比が10以上となるように構成されており、 前記調整手段は、前記パルス光のスポット形状を前記ギャップの領域に適合化する、測定装置。
IPC (1件):
G01N 21/35
FI (1件):
G01N21/35 Z
Fターム (12件):
2G059CC12 ,  2G059EE01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK10 ,  2G059LL01

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