特許
J-GLOBAL ID：201403026240258859
検査装置および検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
佐藤 隆久
, 飯島 康弘
, 葛谷 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-190220
公開番号（公開出願番号）：特開2014-048813
出願日： 2012年08月30日
公開日（公表日）： 2014年03月17日
要約：
【課題】ICカードとリーダライタとの間に設けられた電源電圧供給のための端子が接触不良の場合でも、この端子や他の端子の接触状態を知ることができるようにする。【解決手段】ICカードに代えてICカードリーダライタ1に挿入される検査装置3において、その挿入時に、ICカードリーダライタ1の接続端子141と接触する測定用端子31と、外部装置4からの電源電圧が供給される被給電端子32v、32d及び32gと、外部装置4から電源電圧供給を受けて動作し、測定用端子31にICカードリーダライタ1から供給される信号または電圧の電圧値を測定する測定手段(A/D変換器34及びMPU35)を設けた。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
情報処理装置が情報記録媒体に対し情報の読み取りまたは書き込みを行うときに前記情報記録媒体の端子が接触する接続端子に接続して前記情報処理装置に配置される、検査装置であって、
前記検査装置が前記情報処理装置に配置されると前記接続端子に接触する測定用端子と、
外部装置から電源電圧が供給される被給電端子と、
前記外部装置からの電源電圧により動作し、前記測定用端子に前記接続端子が接触した状態で当該測定用端子に前記情報処理装置から供給される信号または電圧の電圧値を測定する測定手段と、
を有することを持微とする、
検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
5B058CA19
, 5B058KA24
, 5B058KA28
