特許
J-GLOBAL ID：201403026357507515
試料ガスの分析システムおよび分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人サンクレスト国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-273725
公開番号（公開出願番号）：特開2014-119318
出願日： 2012年12月14日
公開日（公表日）： 2014年06月30日
要約：
【課題】試料ガス中に含まれる被測定ガスの量を高感度で、かつ高精度で測定することができる試料ガスの分析方法および当該方法に用いられる試料ガスの分析システムを提供すること。【解決手段】被測定ガスと当該被測定ガスの融点よりも低い温度の標準沸点を有し、かつ前記被測定ガスに対して不活性である希釈ガスとを含有する試料ガス中に含まれる被測定ガスの量を、ガスクロマトグラフを用いて測定する試料ガスの分析方法であって、前記試料ガスを希釈ガスの標準沸点よりも高い温度でかつ被測定ガスの融点以下の温度に冷却し、前記試料ガス中の被測定ガスを液体または固体として捕集した後、捕集された液体または固体を気化させて被測定ガスを生成させ、当該被測定ガスをキャリアガスに同伴させてガスクロマトグラフに導入し、前記被測定ガスの量を測定する試料ガスの分析方法および当該方法に用いられる試料ガスの分析システム。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定ガスと、当該被測定ガスの融点よりも低い温度の標準沸点を有し、かつ前記被測定ガスに対して不活性である希釈ガスとを含有する試料ガス中に含まれる被測定ガスの量を測定するための試料ガスの分析システムであって、
前記試料ガスを搬送する試料ガス流路と、
前記試料ガス流路の下流に接続されたガスクロマトグラフと、
前記試料ガス流路の途中に設けられ、被測定ガスを液体または固体として捕集する捕集部と、
前記捕集部に着脱可能に設けられ、前記捕集部を希釈ガスの標準沸点よりも高い温度でかつ被測定ガスの融点以下の温度に冷却するための冷却部と、
前記捕集部に着脱可能に設けられ、前記捕集部内に捕集された液体または固体を加熱して気化させるための加熱部と、
前記捕集部の上流側に着脱可能に設けられ、前記試料ガス流路内にキャリアガスを供給し、前記加熱部による加熱によって生成した被測定ガスを当該キャリアガスに同伴させてガスクロマトグラフに導入させるキャリアガス供給部と
を備えていることを特徴とする試料ガスの分析システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N30/08 G
, G01N30/54 K
