特許

J-GLOBAL ID：201403027623514553

帯電量測定方法及び測定装置

発明者： 佐藤 和之 ,  村井 康亮 ,  村山 隆二 ,  井上 圭 ,  森谷 修司 ,  大西 敏一 ,  竹内 達夫 ,  松坂 修二 ,  安田 正俊
出願人/特許権者： キヤノン株式会社 ,  松坂 修二 ,  有限会社IMP
代理人 (2件)： 渡辺 敬介 ,  山口 芳広
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-152071
公開番号（公開出願番号）：特開2014-016178
出願日： 2012年07月06日
公開日（公表日）： 2014年01月30日
要約：

【課題】粉体に所望の電荷量を与え、粉体と試料板との摩擦による帯電量を測定できる帯電量測定方法および測定装置、特に樹脂を外殻層に持つ粉体粒子の全面に所望の電荷量を付与して摩擦帯電を測定できる帯電量測定方法および測定装置を提供すること。【解決手段】粉体3を電圧印加した平行平板電極間5に薄層状態で通過させることにより電荷を付与した後、該粉体を試料板1に接触させ、接触後に生じた該粉体もしくは試料板の電荷量を測定することを特徴とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

電圧を印加した対向電極間を、薄層状態で粉体を通過させて、該粉体の帯電量を調整した後、該粉体を試料板に接触させ、接触後に該粉体もしくは試料板の電荷量を測定することを特徴とする帯電量測定方法。

IPC (1件)：

G01N 27/60

FI (1件)：

G01N27/60 F

Fターム (2件)：

2G041BA09 ,  2G041BA12