特許
J-GLOBAL ID:201403030084050077

ダイヤモンドセンサ、検出器及び量子装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 辻居 幸一 ,  熊倉 禎男 ,  弟子丸 健 ,  井野 砂里 ,  松下 満 ,  倉澤 伊知郎 ,  渡邊 誠
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-510741
公開番号(公開出願番号):特表2014-515000
出願日: 2012年05月10日
公開日(公表日): 2014年06月26日
要約:
合成単結晶ダイヤモンド材料の薄い板であって、この合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板は、100nm〜50μmの厚さ、0.1ppb(十億部あたりの部)を超える量子スピン欠陥濃度、200ppm(百万部当たりの部)未満の量子スピン欠陥以外の点欠陥濃度を有し、合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板の少なくとも1つの主要フェースは、ゼロ核スピン及び/又はゼロ電子スピンを有する表面末端化学種を含む、合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板。【選択図】図4
請求項(抜粋):
合成単結晶ダイヤモンド材料の薄い板であって、前記合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板は、 100nm〜50μmの厚さと、 0.1ppb(十億部あたりの部)を超える量子スピン欠陥濃度と、 200ppm(百万部当たりの部)未満の量子スピン欠陥以外の点欠陥濃度とを有し、 合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板の少なくとも1つの主要フェースは、ゼロ核スピン及び/又はゼロ電子スピンを有する表面末端化学種を含む、合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板。
IPC (7件):
C30B 29/04 ,  G01R 33/26 ,  G01R 33/60 ,  G01R 33/24 ,  G01N 24/10 ,  G01R 33/48 ,  C01B 31/06
FI (7件):
C30B29/04 ,  G01N24/00 P ,  G01N24/00 G ,  G01N24/00 E ,  G01N24/10 510D ,  G01N24/08 510Y ,  C01B31/06 Z
Fターム (20件):
4G077AA02 ,  4G077AB01 ,  4G077AB04 ,  4G077BA03 ,  4G077CC04 ,  4G077CC10 ,  4G077EB01 ,  4G077HA12 ,  4G077HA20 ,  4G077LA00 ,  4G146AA04 ,  4G146AA15 ,  4G146AB05 ,  4G146AB07 ,  4G146AC01A ,  4G146AC01B ,  4G146AC27A ,  4G146AC30A ,  4G146AD01 ,  4G146AD28

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