特許
J-GLOBAL ID:201403030084050077
ダイヤモンドセンサ、検出器及び量子装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (7件):
辻居 幸一
, 熊倉 禎男
, 弟子丸 健
, 井野 砂里
, 松下 満
, 倉澤 伊知郎
, 渡邊 誠
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-510741
公開番号(公開出願番号):特表2014-515000
出願日: 2012年05月10日
公開日(公表日): 2014年06月26日
要約:
合成単結晶ダイヤモンド材料の薄い板であって、この合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板は、100nm〜50μmの厚さ、0.1ppb(十億部あたりの部)を超える量子スピン欠陥濃度、200ppm(百万部当たりの部)未満の量子スピン欠陥以外の点欠陥濃度を有し、合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板の少なくとも1つの主要フェースは、ゼロ核スピン及び/又はゼロ電子スピンを有する表面末端化学種を含む、合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板。【選択図】図4
請求項(抜粋):
合成単結晶ダイヤモンド材料の薄い板であって、前記合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板は、
100nm〜50μmの厚さと、
0.1ppb(十億部あたりの部)を超える量子スピン欠陥濃度と、
200ppm(百万部当たりの部)未満の量子スピン欠陥以外の点欠陥濃度とを有し、
合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板の少なくとも1つの主要フェースは、ゼロ核スピン及び/又はゼロ電子スピンを有する表面末端化学種を含む、合成単結晶ダイヤモンド材料の薄板。
IPC (7件):
C30B 29/04
, G01R 33/26
, G01R 33/60
, G01R 33/24
, G01N 24/10
, G01R 33/48
, C01B 31/06
FI (7件):
C30B29/04
, G01N24/00 P
, G01N24/00 G
, G01N24/00 E
, G01N24/10 510D
, G01N24/08 510Y
, C01B31/06 Z
Fターム (20件):
4G077AA02
, 4G077AB01
, 4G077AB04
, 4G077BA03
, 4G077CC04
, 4G077CC10
, 4G077EB01
, 4G077HA12
, 4G077HA20
, 4G077LA00
, 4G146AA04
, 4G146AA15
, 4G146AB05
, 4G146AB07
, 4G146AC01A
, 4G146AC01B
, 4G146AC27A
, 4G146AC30A
, 4G146AD01
, 4G146AD28
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