特許
J-GLOBAL ID：201403030985517420
分析用基板
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
長谷川 洋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-284064
公開番号（公開出願番号）：特開2014-126477
出願日： 2012年12月27日
公開日（公表日）： 2014年07月07日
要約：
【課題】 検出部の表面処理の生産性を上げ、安価な分析用基板を提供する。 【解決手段】 本発明は、液状物を分析するための分析用基板1であって、その基板1の厚さ方向に貫通若しくは窪む接続部4と、その基板1の一方の表面から接続部4に取り付け可能に構成され、液状物を検出、反応、吸着、脱離もしくは分解する部位となる検出部30とを備える分析用基板1に関する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
液状物を分析するための分析用基板であって、
その基板の厚さ方向に貫通若しくは窪む接続部と、
その基板の一方の表面から上記接続部に取り付け可能に構成され、上記液状物を検出、反応、吸着、脱離もしくは分解する部位となる検出部と、を備える分析用基板。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N35/08 A
, G01N37/00 101
